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USPM-RU III反射儀可靖確測量當前分光儀無法測量的微小、薄樣本的光譜反射率，不會與樣本背面的反射光產生干涉。 測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統。
測量及?的?積
可以測量鏡?的曲?，即使是樣本表?上形成的?到Ø60 μm 或Ø30 μm 的細斑。這就提供了使?量?器檢查鏡頭或其它光學組件的彎曲?的能?。
快速得出結果
使?平場光闌、線性傳感器和?速分光光度測定法可以在數秒內完成快速、?再現性的測量。
采集到平場光闌的全部波長后數秒內完成測量。
減少了背?的?擾
?須代價?昂的步驟去防?背?反射即可實現表?反射率的靖確測量。通過使?環形照明光的特殊光學元件來減少背?反射光，該特殊光學元件類似于共焦系統，能夠阻擋所有離焦光反射。?輪光學組件是球?、?球?，還是平?，USPM-RU III 都不需要樣本進?防反射處理。
X-Y ?度圖和L*A*B 測量
可以根據由分光反射率確定的光譜分光光度??法測量物體的顏?。
便于使?的軟件有助于?戶得出通過/ 未通過結果
在反射系數和?度圖?輸?標準值，從?可以做出未通過/ 通過的決定。
主要測量因素：反射率，物體的顏?
主要應?
● 光學透鏡、反射鏡、棱鏡、光學鍍膜部品
● LED 反射器、MEMS 反射鏡
技術參數
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